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乱世王者开服时间表:Enli QE-R 光譜響應測試系統 IPCE 量子效率測試

enli QE-R 光譜響應測試系統 IPCE 量子效率測試
QE-R光譜響應測試系統 產品特色:
  • 特制高效率集光系統設計,高達70 %以上的集光,有效提高訊號強度,使量測更快更穩定。
  • 獨家配備兩部鎖相放大器,同時達到即時監控光強與訊號量測,提供最準確的量測結果。
  • 獨家整合電腦自動控制訊號切換器,可降低維修及耗材成本。
  • 采用原裝多光柵單光儀,低雜散光 < 10-5,穩定度高及掃描快速。
  • 光源穩定,可長時間持續測試,縮短實驗校正時間。
  • 數據重復性高達99.5 %。
  • 適用于量測各種材料之太陽能電池。


※以QE-R量測三節電池的EQE


※以QE-R比較不同結構之HIT電池

※以QE-R量測硅基三節電池結構的EQE※QE-R量測太陽能電池的差異性小

乱世王者无限元宝 www.ymcde.icu QE-R光譜響應測試系統 系統說明:

  • QE-R標準系統即具備IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有必備功能:
    • 依據IEC 60904-8規范設計,可校正、量測光譜響應 / 量子效率。
    • 采用德國Fraunhofer ISE同等級之白光偏光源,光源強度可達0~3個太陽 光常數。
    • 具備自動電壓偏壓功能,將電池穩定的維持在短路條件,在測試量測光譜響應 / 量子效率時無須再外接一個電源供應器,省去接線錯誤的麻煩。
    • 量測太陽能電池材料能隙,提供客戶重要材料參數。
    • 獨家光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)計算,提供用戶最重要的修正參數。
    • 獨家全光譜短路電流密度計算(auto interlace演算),可提供最準確的計算結果。
    • 短路電流密度光譜,提供客戶作為材料分析、制程改進之關鍵資訊。
    • 內部量子效率計算功能,客戶可自行輸入反射率,計算內部量子效率。
  • 高效率集光系統,集光效果 > 70 %,較傳統透鏡集光系統高于一個數量級以上的光強度,提供系統絕佳的訊噪比與量測的準確性。
  • Czerny-Turner多光柵單光儀,低雜散光 < 10-5,高穩定度、掃描快速,光譜范圍可達200 nm ~2000 nm。
  • 雙光束光路設計:
    • 同NIM、NIST、PTB國際一級校驗單位相同光路設計。
    • 量測樣品光電流訊號同時監控光強變化,確保量測的高度準確性。
  • 訊號多工器,獨家整合電腦自動控制訊號切換器,避免拉拔訊號線接頭所造成之損壞,降低維修及耗材成本。
  • 優異的信噪比,可達100 dB是整體系統優化的結果,客戶無須再閱讀一般鎖相放大器厚重的操作手冊,無須自行優化量測時的設定參數,避免人為操作的困擾與錯誤。
  • 直流量測模式,客戶無須再拆裝任何硬體設備,直接將多功電表,模組化整合到系統內部,大幅簡化硬體空間與拆裝的不便性。
  • 高均勻度參考偵測器(Reference detector)。

QE-R光譜響應測試系統 系統規格

項目
規格
儀器大小
  1. 600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系統,不含作業計算機
重量
  1. 主體:80kg
量測模式
  1. 交流量測模式
量測波長
  1. 300nm~1100nm ,可擴展到2000nm
光班大小
  1. 2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)
整合型光源系統
  1. 150WXQ光源系統(或75W Xe燈光源),光源不穩定度<0.1%,可提供300nm~2000nm連續光源
  2. 高效率橢圓集光鏡系統,具備三軸調整旋鈕
  3. 燈源定時器
單光儀
  1. Czerny-Turner多光柵單光儀
  2. 0.1nm波長解析,掃描范圍 200nm~2000nm
自動濾鏡轉輪
  1. 可裝載6片雜散光濾鏡
  2. 可手動/計算機控制,具LED顯示
斬波器
  1. 4Hz~500Hz,計算機頻率控制
雙鎖相放大器
  1. 兩部DSP dual-phase鎖相放大器整合于系統內,可同時擷取雙光束測試訊號
校正探測器
  1. Si偵測器,10x10m2
  2. 有效面積內不均勻度<0.5%
  3. 偵測能力200nm~1100nm
  4. 附300nm~1100nm光譜回應追溯校驗報告
訊號切換多任務器
  1. 4對1計算機控制訊號切換多任務器
計算機系統
  1. PC,LCD,Windows操作系統(需自備計算機桌)
軟件
  1. EQE/SR量測控制軟件
  2. 光強度校正
  3. 多圖儲存與編輯
  4. 能系分析功能
  5. 自動切換參考偵測器與待測電池之訊號
  6. 樣品訊號狀態顯示
  7. 內部量子效率計算(客戶輸入反射率)
  8. 全光譜短路電路密度計算(自動交錯算法)
  9. 短路電流密度光譜
  10. 光譜不含致度因子計算軟件(自動交錯算法)
電力需求
  1. 可選110V或220V AC單相,<1KVA
操作環境
  1. 溫度:20 ℃~40 ℃,濕度:20%~80%
光強監控???/strong>
  1. 300nm~1100nm,雙光束量測
偏壓電壓
  1. 0V~±5V

QE-R光譜響應測試系統 選購功能

項目
規格
雙光源系統
  1. Xe + QTH 雙光源系統,含兩組高效率橢圓集光燈系統,計算機控制電源切換
  2. 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(選購雙光源后的材積)
偏置光源
  1. 150 W 白光偏光光源
全自動多接面量測套件
  1. 可量測:
  2. aa-si; au-si double-junction;
  3. aau-si; auu-si; aug-si triple-junction;
  4. III-V double-junction and triple-junction;
  5. OPV double-junction
內部量子效率量測???/strong>
  1. 2”積分球
  2. 硅偵測器,波長范圍 300 nm~ 1100 nm
  3. 積分球切換機構
  4. 反射率 / IQE 量測軟件
穿透率量測???/strong>
  1. 穿透率量測偵測器,si 300 nm ~ 1100 nm
  2. 穿透率量測軟件
  3. 量測樣品臺,樣品大小 max. 20 x 20 x 3mm3 (min. 10 x 10 x 1 mm3)
長波長擴充套件
  1. Ge 鍺參考偵測器,900 nm ~ 1800 nm 含校正報告
  2. InGaAs 參考偵測器,1000 nm ~ 2000 nm 含校正報告
UPS
  1. Online UPS > 1.5 KVA
Mapping
  1. XY自動平臺,200 nm x 200 nm行程,2.5 um resolution
  2. Mapping量測軟件
  3. 任意波長QE掃描等功能
  4. 自動光強校正 / 樣品量測 / 位置調整
其他
  1. 直流量測模式、客制化樣品臺、數字影像顯微鏡下針監控系統、反射率內部量子效率量測、吸收光譜量測(需選購反射率及穿透率套件)、系統使用效益統計分析、制成改進分析功能、供電系統分析、光束引致電流空間掃描3D掃描量測與分析、多點EQE自動量測


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